射線照相法探傷是利用物質(zhì)在密度不同、厚度不同時(shí)對(duì)射線的吸收程度不同(即使射線的衰減程度不同),就會(huì)使零件下面的底片感光不同的原理，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料或零件內(nèi)部質(zhì)量的照相探傷。
當(dāng)射線穿過密度大的物質(zhì)，如金屬或非金屬材料時(shí),射線被吸收得多，自身衰減的程度大,使底片感光輕;當(dāng)射線穿過密度小的缺陷(空氣)時(shí)，則被吸收得少,衰減小，底片感光重。這樣就獲得反映零件內(nèi)部質(zhì)量的射線底片。
X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料，并由于材料對(duì)射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，于是在底片上形成黑度不同的影像，據(jù)此來判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗(yàn)方法。
電力檢測(cè)X射線探傷機(jī)系統(tǒng)性能及特點(diǎn)
1.外形小巧便攜，同時(shí)具備顯著穿透能力
2.全部配件可放置在一個(gè)包裝內(nèi)，非常便攜
3.成本低，大大節(jié)省人力和時(shí)間成本
4.友好用戶界面，操作簡(jiǎn)單
5.可輕松連接到三腳架或定制的固定工具上
6.輻射劑量小，安全可靠
7.不含有害或危險(xiǎn)物質(zhì)，無需擔(dān)心運(yùn)輸問題。
8.大能量：270kV
9.其他可選配型號(hào)為XRS-3、XR150(150kV)、XR200(150kV)、XRS-4(370kV)
10.輸出劑量：大4.0 mR/脈沖，小2.6mR/脈沖，距離射線源12英寸出測(cè)量
11.脈沖率：常規(guī)15脈沖/秒
12.X射線源尺寸：3mm
13.X射線脈沖寬度：50納秒
14.探測(cè)器類型：非晶硅
15.探測(cè)器有效成像范圍：35x43cm
16.探測(cè)器像素間距：140μm
17.空間分辨率：3.6LP/mm
18.A/D轉(zhuǎn)換：16位
19.出圖時(shí)間(有線/無線)：1秒/2.5秒
應(yīng)用領(lǐng)域
1.電力檢測(cè)
2.耐張線夾X光探傷檢測(cè)
3.電力金具X光探傷檢測(cè)
4.接續(xù)管X光探傷檢測(cè)
5.輸電線路金具X光探傷檢測(cè)
6.三跨線路耐張線夾探傷
7.GIS設(shè)備內(nèi)部檢測(cè)
更新時(shí)間：2021-03-03
點(diǎn)擊次數(shù)：4049
當(dāng)前位置：
上一個(gè)：
返回列表
